Jonne Näkki
Pyyhkäisyelektronimikroskooppi SEM (Scanning Electron Microscope) on erittäin laajasti käytetty menetelmä monissa tieteen ja tekniikan sovelluksissa, koska sillä saadaan selkeä ja havainnollinen kuvia suurilla suurennoksilla pienistäkin kohteista, ja lisäksi samalla saadaan analysoitua näytepinnan alkuainekoostumus.
Jatka lukemista ”Pyyhkäisyelektronimikroskooppi eli SEM”